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High Precision Stress Measurements in Semiconductor Structures by Raman Microscopy
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Personen und Körperschaften: | , , |
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Titel: | High Precision Stress Measurements in Semiconductor Structures by Raman Microscopy |
Hochschulschriftenvermerk: | Dissertation, Technische Universität Dresden, 2009 |
Format: | E-Book Hochschulschrift |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Online-Ausg..
2010
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Schlagwörter: | |
Quelle: | Qucosa |